Técnicas de caracterização dos materiais I

Código: AL5069

Créditos: 2

Disciplina obrigatória: Não

Semestre de oferta: 1º Semestre

Docente: Chiara Valsecchi


Ementa:
Princípios básicos da Cristalografia. Difração de Raios-X. Métodos Difratográficos. Análise da Estrutura dos Cristais. Interação da Radiação com a Matéria (Radiação Eletromagnética, Elétrons, Prótons e Nêutrons). Espectroscopia na região do infravermelho


Bibliografia:

  1. CULLYTI, B.D. Elements of X-Ray Diffraction. 3a ed., Londres: Addson-Wesley Publishing Company, Inc., 1978.
  2. BRANDON, D.; KAPLAN, W. D., Microstructural Chracterization of Materials. 2a ed. Nova Jersey: John Wiley & Sons, Inc., 2008.
  3. GOLDSTEIN,J. Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis. 3a ed., Nova Iorque: Springer, 2003.