Código: AL5118
Obrigatória: não
Carga-horária: 60h
Créditos: 4
Ementa:
Fundamentos de conversão analógico-digital (AD) e digital-analógico (DA): Teoria da amostragem, critério de Nyquist e aliasing, conversores AD e DA ideais. Ruído de quantização. Parâmetros e limitações de ADCs: ENOB, SNR, SNDR, SFDR, DR, linearidade, erro de ganho e erro de offset. Topologias de conversores AD do tipo Nyquist: Integrador, Integrador Dupla-Rampa, Flash, SAR, Algorítmico, Pipeline e Time-Interleaved. Topologias de conversores AD sobreamostrados: Efeito de sobreamostragem e noise-shaping, moduladores sigma-delta em tempo discreto e tempo contínuo, e filtros de decimação. Conversores DA: DACs baseados em resistores (divisor resistivo, resistores com pesos binários e R2R), DACs current steering e DACs a capacitor chaveado por redistribuição de carga. Projeto de conversores AD e DA em tecnologia CMOS.
Bibliografia:
- CARUSONE, T. C., JOHNS, D., MARTIN, K. W., & JOHNS, D. (2012). Analog integrated circuit design. Hoboken, NJ, John Wiley & Sons.
- PELGROM, M., Analog-to-Digital Conversion, 3. ed., Springer, 2012.
- MALOBERTI, F., Data Converters, Springer, 2007.
- BAKER, R. J. CMOS: circuit design, layout, and simulation, 3rd ed., Hoboken, NJ: John Wiley & Sons, 2010.
- BAKER, R. J., CMOS: mixed-signal circuit design. 2nd ed. Hoboken, NJ: John Wiley & Sons, 2009.
- RAZAVI, B., Design of analog cmos integrated circuits. New York, NY: McGraw-Hill, 2001.
- RAZAVI, B., Principles of data conversion system design. New York, NY: John Wiley & Sons, 1995.
- JESPERS, P., Integrated Converters: D to A and A to D Architectures, Analysis and Simulation, OUP Oxford, 2001.
- Artigos científicos publicados nas revistas IEEE Journal of Solid-State Circuits, IEEE Transactions on Circuits and Systems I, IEEE Transactions on Circuits and Systems II, IET Electronics Letters, IET Circuits, Devices and Systems, Springer Analog Integrated Circuits and Signal Processing e IEEE Proceedings.